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量測電路
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
量測電路
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
拔下裝置
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
沒有反應
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
插上電腦
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
(中央社台北18日電)三星電子主管上週在拉斯維加斯舉行的消費電子展(CES)中發表新款晶片後,外界就對三星即將推出截然不同的嶄新高階智慧手機充滿了期待,三星新機未演先轟動,人氣堪比蘋果iPhone。
據華爾街日報(WSJ)報導,在將近4個月時間,部落格與南韓媒體的科技寫手就設法揭開三星電子(Samsung Electronics)新機的神秘面紗,其中包括新機可能命名為Galaxy S IV等。
他們宣稱,三星新機將搭載更大的螢幕,機身更薄,附筆,沒有按鈕,理所當然處理器速度更快,電池壽命更長。去年11月時,有些報導指出,三星新機的螢幕將摔不破,其他報導則表示手機將防水。
甚至有些科技網站出現了新品發表會的媒體邀請函照片。
取電路板
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
打開外殼
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
卸下鐵環
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
拔下裝置
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
沒有反應
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插上電腦
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
無法使用
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
掉落地面
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
現場檢測
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
來電詢問
IN-TECH 英鼎 H1223HG 32GB USB 3.0
〔編譯林翠儀/綜合報導〕針對日本全日空所屬波音七八七客機,日前發生電池系統故障起火,飛機迫降香川縣高松機場的事故,經日本運輸安全員委會初步調查,發現起火的電池已被燒成焦黑,疑因主電池承受過量電流及電壓而出現過度充電現象,導致可燃性電解液在過熱、沸騰的狀態下噴出、起火。此外,由於日本的調查時間可能長達一年,恐怕嚴重影響七八七的復飛時程。
而美國國家運輸安全委員會(NTSB)、美國聯邦航空總署(FAA)等派遣的調查團,十八日抵達日本香川縣高松機場,進行事故調查。肇事鋰電池的日本製造商湯淺公司,也派遣三名工程師前往高松協助調查,日本運輸安全員委會也將與美方的調查團共享資訊,以利調查客機出狀況的原因。
全日空這架波音七八七客機十六日在飛行途中,儀器感應到煙霧,機長隨即將客機緊急迫降高松機場。由於日航所屬的同型客機,本月初在降落美國波士頓機場後,也發生電池冒煙起火事故,兩起事故狀況類似,也引起了電池設備不良的質疑。
留件檢測
全漢 FSP 極光戰神 460 電源供應器 460W
型號規格
全漢 FSP 極光戰神 460 電源供應器 460W